Questão 92492

92492 Ano: 2010
Disciplina: Física
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: INMETRO

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Pesquisador do Inmetro - Microscopia de Ponta de Prova
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A técnica de microscopia de força elétrica

é apropriada para investigar amostras planas, pois em amostras rugosas o fenômeno de concentração de carga, denominada poder das pontas, pode gerar danos na ponta de prova.

permite apenas o levantamento do mapa de força elétrica da amostra, sendo necessária a substituição do cantiléver para se realizar o mapeamento topográfico.

exige o mapeamento topográfico da amostra antes de se fazer o mapeamento elétrico.

exige a utilização do modo de contato e o uso de cantiléver de pequena constante elástica.

serve apenas para materiais condutores ou semicondutores, não sendo eficaz em materiais isolantes.

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