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Respondida
1390673
Ano:
2012
Disciplina:
Engenharia Eletrônica
Banca:
FUNRIO
Orgão:
CEITEC
Provas:
Especialista em Tecnologia Eletrônica Avançada - LABANA
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Tópicos avançados em microeletrônica
O conceito de Rastreabilidade Metrológica ou, simplesmente, Rastreabilidade pode ser descrito como
A
propriedade de um resultado de medição pela qual tal resultado pode ser relacionado a uma referência através de uma cadeia ininterrupta e documentada de calibrações, cada uma contribuindo para a incerteza de medição.
B
sequência de padrões e calibrações utilizada para relacionar um resultado de medição a uma referência.
C
provimento de evidência objetiva de que um dado item atende a requisitos especificados.
D
comparabilidade de resultados de medição que, para grandezas de um tipo determinado, são rastreáveis metrologicamente à mesma referência.
E
relação matemática entre todas as grandezas que, sabidamente, estão envolvidas numa medição.
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