O princípio de funcionamento da microscopia de força atômica (AFM) baseia-se na varredura da superfície da amostra por uma ponta helicoidal.

O manuseio da técnica de AFM se realiza por apenas dois modos distintos.

No modo contato da técnica de AFM, o cantiléver é mantido de dezenas a centenas de ângstrons (D) de distância da superfície da amostra e a força interatômica entre a ponta e a amostra é atrativa.

A integração da AFM e a eletroquímica resultou no desenvolvimento da microscopia de varredura eletroquímica, que permite obter imagens simultâneas de tomografia e atividade eletroquímica.

A ponteira do cantiléver mesmo agindo como um ultramicroeletrodo não interfere na obtenção da imagem topográfica da amostra.