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Respondida
1407327
Ano:
2012
Disciplina:
Engenharia Eletrônica
Banca:
FUNRIO
Orgão:
CEITEC
Provas:
Especialista em Tecnologia Eletrônica Avançada - IMPION
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Tópicos avançados em microeletrônica
Executando-se a espectroscopia de massa do íon secundário (SIMS) de uma estrutura implantada, consegue-se obter
A
o perfil de implantação na lâmina.
B
a oxidação da lâmina.
C
a deposição de um filme fino sobre a lâmina.
D
a limpeza da lâmina.
E
os defeitos na lâmina.
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