Questão 91891

91891 Ano: 2010
Disciplina: Física
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: INMETRO

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Pesquisador do Inmetro - Nanometrologia
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Para se estudar e caracterizar nanomateriais, as técnicas de microscopia eletrônica são comumente empregadas, destacando-se, principalmente, a microscopia eletrônica de transmissão (MET) e a microscopia eletrônica de varredura (MEV). Acerca da MET e da MEV, assinale a opção correta.

Na MEV, o ideal é que as amostras sejam condutoras, pois, de outra forma, os elétrons podem se acumular na amostra e interagir com o próprio feixe de elétrons, resultando na perda de definição da imagem.

A vantagem primária da MET sobre a MEV é que ela pode formar imagens de amostras opacas aos elétrons, sem a necessidade de realizar difíceis preparações de amostra.

A melhor resolução possível da MET depende de quanto colimado é o feixe incidente focado sobre a amostra, de como ele é movido sobre ela e do quanto o feixe se espalha sobre a amostra antes de refletir no detector.

Ao contrário da MEV, na MET, o feixe de elétrons provoca a produção de raios X com energias características da composição elementar dos materiais analisados.

A diferença entre MEV e MET fundamenta-se, principalmente, no tipo fonte de elétrons utilizada.

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