O princípio de um microscópio eletrônico de varredura (MEV) consiste na utilização de um feixe de nêutrons que incide sobre a superfície da amostra, para explorar ponto a ponto, por linhas sucessivas e transmitir o sinal do detector a uma tela catódica cuja varredura está perfeitamente sincronizada com aquela do feixe incidente.