A distância entre os planos cristalinos do material definirá a difração que os raios-X sofrem, possibilitando descobrir o padrão e a orientação dos cristais do material.

Materiais amorfos, isto é, sem estrutura cristalina, não são bem analisados por essa técnica.

O posicionamento da amostra em relação à fonte de raios-X altera o resultado da difração entre os planos cristalinos.

Essa técnica também pode ser utilizada em amostras liquidas.