Questão 92498

92498 Ano: 2010
Disciplina: Física
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: INMETRO

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Pesquisador do Inmetro - Microscopia de Ponta de Prova
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O desenvolvimento de superfícies estruturadas e a miniaturização de componentes em escala nanométrica exige o desenvolvimento de modos de medidas de alta resolução. Quanto a esse assunto, assinale a opção correta.

Os microscópios de ponta de prova foram desenvolvidos primordialmente para estudar as estruturas internas dos materiais.

A alta resolução dos microscópios de ponta de prova decorre do fato de que a parte móvel é a ponta de prova, que se desloca sobre a amostra, a qual é mantida fixa no referencial do laboratório.

Devido à robustez dos microscópios de ponta de prova, esses equipamentos são pouco influenciados pelas condições do ambiente onde estão localizados.

Nos microscópios de força atômica, como a ponta de prova está em contato direto com a amostra, o que se detecta é uma imagem real do sistema sob estudo.

Os microscópios de varredura de ponta de prova de metrologia (metrological SFM) são sistemas de medidas de referência que utilizam interferômetros de laser para a determinação de descolamentos com resolução nanométrica.

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