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Respondida
1380858
Ano:
2012
Disciplina:
Engenharia Eletrônica
Banca:
FUNRIO
Orgão:
CEITEC
Provas:
Especialista em Tecnologia Eletrônica Avançada - EDIECO
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Tópicos avançados em microeletrônica
A estrutura utilizada para medição de resistência de contato é a estrutura
A
Early.
B
Kelvin.
C
Fermi.
D
de resistência simples.
E
de Van der Pauw.
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