É possível, em modo de contato, aplicar uma voltagem entre uma ponta de prova condutora de um microscópio de força atômica e a amostra e medir a corrente para determinar o mapa de resistência elétrica, determinando, dessa forma, o mapa de dopagem ou o tipo de dopante, p ou n.

A ocorrência de óxidos nas amostras pode dificultar a realização do contato elétrico, tornando imprevisível o valor medido e impedindo o levantamento do mapa de condutividade do material.

Os valores medidos nos valores médios da função trabalho entre a ponta de prova e a amostra podem ser adotados como a assinatura das propriedades elétricas intrínsecas da amostra.

O espalhamento da corrente entre a ponta de prova da amostra serve como um marcador para levantar o mapa de resistência elétrica.

A técnica apropriada para levantar o mapa de resistência elétrica é a microscopia de varredura capacitiva, na qual a ponta de prova é mantida afastada da amostra e é medida a fase de um sinal de corrente contínua.