Texto para a questão.

O primeiro procedimento que se deve adotar ao iniciaremse medidas com um microscópio de força atômica é o alinhamento do cantiléver. A qualidade do alinhamento é fundamental para manter a integridade das pontas de prova, bem como para a qualidade das imagens coletadas. O alinhamento do cantiléver é realizado por meio do posicionamento de um laser que incide sobre uma superfície refletora no verso da ponta de prova, na extremidade do cantiléver, e é refletido na direção de um conjunto de quatro fotodiodos, formando um estrutura de quatro quadrantes, como a que está representada na figura abaixo.

Esboço de um arranjo de fotodiodos utílizado

para determinar o alinhamento de um cantiléve

em microscópio de força atômica.

Durante o alinhamento, estão disponíveis as seguintes informações: a soma das fotocorrentes (A+B+C+D), a diferença entre as fotocorrentes dos fotodiodos da esquerda e da direita ((A + C) - (B + D)), e a diferença de fotocorrentes entre os fotodiodos da parte superior e aqueles da porção inferior ((A + B) - (C + D)).

Após o procedimento de alinhamento do cantiléver para medidas no modo de contato, mas antes de fazer o contato da ponta de prova com a superfície da amostra, é necessário fazer um desalinhamento ótico cuidadoso e definir um valor para o set-point de corrente, geralmente em valores da ordem de algumas unidades de nA. Esse procedimento é realizado com o objetivo de