Principal método para a obtenção de informações relacionadas à topografia de superfície e a propriedades funcionais em micro e nanoescalas detecta forças diminutas entre uma ponta afiada e um substrato, e utiliza, convencionalmente, um cantilever microscópico que deflete sob a influência de forças locais, dando origem a um movimento que pode ser detectado por meio de uma alavanca óptica.

Assinale a alternativa que se refere à descrição apresentada.