Observe as afirmativas abaixo.
I – A amostra sob análise é submetida a um bombardeamento por um feixe de íons.
II – A amostra analisada é submetida a um feixe de elétrons.
III – Pode ser realizada em analisadores de massa de tempo de voo.
IV – Baseia-se na radiação emitida pela amostra após interagir com o feixe de raio-X.
As sentenças que se referem à espectrometria de massa por íons secundários são expressas na alternativa
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