depende de pontas de prova recobertas com materiais de elevado coeficiente de condutividade térmica.

é sinônimo de microscopia de força térmica e pode ser utilizada para determinar o mapa de condutividade térmica da amostra em questão.

é similar à microscopia de força magnética, diferindo desta apenas quanto à classe de materiais a serem investigados, que, no caso da microscopia Kelvin, são semicondutores magnéticos diluídos e, no caso da microscopia de força magnética, são semicondutores magnéticos densos.

é sensível à força elétrica entre a ponta de prova e a superfície da amostra, o que determina o mapa de potencial elétrico.

exige pontas de prova cobertas com material piezelétrico de alta condutividade elétrica.