Durante a análise de amostra não condutora, mas submetida ao revestimento com material condutor, obteve-se imagem com grande diferença de brilho e presença de linhas e distorções, como exemplificado a seguir (imagem da esquerda).

Legenda: Imagens de mesma região da amostra de cerâmica adquiridas a partir de elétrons secundários com efeitos negativos (imagem da esquerda) e com melhoria da qualidade (imagem da direita) da imagem.

Disponível em: https://www.jeol.com/words/semterms/20121024.054158.php#gsc.tab=0. Acesso em: 16 jun. 2025.

Dentre as opções a seguir, qual deve ser utilizada para minimizar esses efeitos negativos e, assim, melhorar a qualidade da imagem?