Magna Concursos
3753512 Ano: 2024
Disciplina: Geologia
Banca: Instituto Access
Orgão: CETEM

Sobre a preparação de amostras para análises por difração de raios X, analise as afirmativas a seguir:

I. Para minimizar o efeito do deslocamento da amostra, cuidados devem ser tomados na preparação e na fixação (montagem) do material no porta amostras.

II. Uma das falhas mais comuns é o uso de amostras que não foram pulverizadas adequadamente, muitos autores recomendam incorretamente o passante na peneira de malha 325 (44 μm).

III. A moagem excessiva da amostra pode resultar no alargamento dos picos de difração.

IV. A superfície da amostra no porta amostras deve ser plana, sem rugosidades ou curvaturas, e não deve estar inclinada em nenhuma direção.

Assinale

 

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