Os principais fatores que afetam a eficiência da produção de raios X provocada pela interação de elétrons com um material-alvo incluem o número atômico (Z) do material- alvo e a energia cinética (E em MeV) dos elétrons incidentes. A razão entre as perdas de energia por processos radiativos (Srad) e as perdas de energia por ionização (Sion), no intervalo de energias dos raios X diagnósticos (20 a 150 kV), é aproximadamente expressa por
\( \dfrac{S_{rad}(E)}{S_{ion}(E)}=\dfrac{Z^nE^n}{800} \)
As potências m e n que descrevem, correta e respectivamente, a relação \( ^Srad^{(E)}/S_{ion}(E) \) são:
