A análise de superfícies reativas por microscopia por ponta de prova requer um estrito controle das condições ambientais para evitar a contaminação da região investigada.

Durante uma análise microscópica por feixe de elétrons, de um nanodispositivo eletrônico, o fluxo de cargas elétricas de superfície no dispositivo não é alterado.

A análise de um material por espectroscopia requer o emprego de padrões válidos, sempre que uma avaliação quantitativa for demandada.

A incerteza determinada para um dado instrumento de medida após a sua calibração não pode ser inferior à incerteza do padrão utilizado na calibração.

A precisão de uma medição indica quão próximos estão o valor estimado e o verdadeiro valor do mensurando.

A elaboração de padrões fundamentais de medição baseados em processos físicos existentes na natureza é uma atividade relevante para o aprimoramento das práticas metrológicas.

A expressão da incerteza na medição só pode ser apropriadamente estabelecida a partir da obtenção direta de dados experimentais estatisticamente independentes.

Polímeros condutores são materiais plásticos que podem ser empregados na fabricação de sistemas eletrônicos flexíveis.

A fotolitografia é a técnica usualmente utilizada para a transferência de padrões geométricos na fabricação de OLEDs.

A freqüência de emissão luminosa de um polímero conjugado pode ser ajustada pela funcionalização do material.