Foram encontradas 100 questões.
Respondida
Ainda no que se refere aos raios X, assinale a opção correta.
Respondida
A detecção dos raios X emitidos pela amostra pode ser realizada tanto pela medida de sua energia (EDS) como pelo seu comprimento de onda (WDS). Com relação aos raios X, assinale a opção correta.
Respondida
Os raios X são produzidos em qualquer região da amostra e possuem energia suficiente para remover um elétron de uma camada interna de outro átomo. A respeito desse assunto, assinale a opção correta.
Respondida
O elétron primário é aquele que atinge a amostra. No que concerne às interações entre elétron primário e amostra analisada, assinale a opção correta
Respondida
A versatilidade da MEV se deve à possibilidade de ela captar e medir as diversas radiações provenientes da interação entre elétron e amostra. Com base nessas informações, assinale a opção correta.
Respondida
Com relação às lentes utilizadas na MEV e às suas funções, assinale a opção correta.
A
Por apresentarem maior coeficiente de aberração, as lentes eletromagnéticas são menos usadas do que as lentes do tipo eletrostáticas.
B
Quanto maior for a intensidade da corrente elétrica nas bobinas de cobre, maior será a intensidade do campo magnético, proporcionando assim maior deflexão do feixe de elétrons.
C
Quanto maior for a corrente que flui pelas lentes condensadoras, maior será o tamanho final do feixe eletrônico e, consequentemente, maior será a corrente do feixe de elétrons que atinge a amostra.
D
As lentes condensadoras e a lente objetiva final reduzem o diâmetro do feixe de elétrons e, à medida que a corrente nas bobinas aumenta, aumenta a distância focal.
E
Para que o feixe eletrônico final possa ser focado a uma distância maior da objetiva, aumentando a distância de trabalho, a corrente na lente objetiva não precisa ser alterada.
Respondida
O filamento de tungstênio, o hexaboreto de lantâneo (LaB6 ) e o field emission gun (FEG) são fontes utilizadas em MEV. Com relação a essas fontes, assinale a opção correta.
Respondida
Com relação aos componentes do microscópico eletrônico de varredura, assinale a opção correta.
Respondida
Acerca das técnicas de microscopia utilizadas nos exames de interesse criminal, assinale a opção correta.
A
Por meio da microscopia ótica (MO), técnica em que o aumento máximo está em torno de 2.000 vezes, tanto as amostras translúcidas como as opacas podem ser analisadas.
B
Para amostras de material opaco, as análises podem ser feitas usando-se a MEV ou a MO e, nesse caso, tanto a superfície do material quanto a parte interna são analisadas.
C
Na MO, o contraste da imagem é o resultado da reflectividade do feixe de elétrons que incide na amostra.
D
Na MEV, o material a ser analisado é irradiado por um fino feixe de elétrons, em vez de radiação por luz visível.
E
Na MEV, uma amostra de espessura extremamente fina é tanto analisada com relação à superfície do material quanto à sua espessura, pois os elétrons que transpassam o material são também coletados no detector.
Respondida
Com relação à análise microestrutural de materiais em geral e às técnicas utilizadas para esse tipo de análise, assinale a opção correta.