Para a obtenção de resultados significativos em análises químicas por WDS em microssonda eletrônica (ME), devem ser tomados alguns cuidados na seleção dos parâmetros analíticos e preparação de amostras, tais como:

A

As amostras a serem analisadas podem ser granulares ou montadas em seções delgadas, desde que sejam metalizadas com C.

B

Somente poderão ser determinados qualitativamente os elementos químicos cujos teores sejam iguais ou inferiores aos teores dos padrões a serem utilizados na análise.

C

As análises por WDS somente devem ser realizadas em amostras nas quais não sejam registradas evidências de substituições ou alteração por efeito de processos hidrotermais ou metassomáticos.

D

As análises por WDS somente são efetivas se o operador souber previamente quais os elementos que deverão ser determinados e se existir a disponibilidade de padrões analíticos para esses elementos.

E

Para a determinação de Li e Be, que são elementos leves, devem ser selecionadas condições de alta aceleração de voltagem (para reduzir a influência de interferências causadas por volatilização da amostra) e tempos de leitura da ordem de alguns minutos (para a redução do erro analítico).

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3251462 Ano: 2015
Disciplina: Geologia
Banca: UFPA
Orgão: UFPA

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Geólogo
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A principal diferença metodológica entre as análises químicas obtidas por detecção de raios-X por EDS, em microscópio eletrônico de varredura (MEV), e as análises químicas obtidas por detecção de raios-X por WDS, em microssonda eletrônica (ME), é que

A

as análises por EDS em MEV são obtidas pela detecção de fótons emitidos na forma de raios-X com energia característica para cada elemento químico, enquanto as análises por WDS são obtidas pela detecção de fótons emitidos na forma de raios-X com comprimentos de onda característicos para cada elemento químico.

B

as análises por EDS em MEV são obtidas por detecção de raio-X com comprimento de onda e frequência características, gerados pela interação entre elétrons primários do feixe e elétrons da amostra, enquanto as análises por WDS em ME são obtidas pela detecção de raios-X com energia e intensidade características dos elementos químicos que constituem a parte da amostra impactada pelos elétrons do feixe.

C

as análises por EDS são determinadas através da detecção de raios-X gerados por elétrons que se propagam na forma de radiação com energia característica, enquanto nas análises por WDS os raios-X são gerados por elétrons que se propagam na forma de radiação com comprimento de onda específico para cada elemento químico.

D

as análises por EDS em MEV são obtidas utilizando-se apenas um espectrômetro, que discrimina, segundo energias características, todo o espectro de radiação gerada pela interação entre o feixe de elétrons e a amostra, enquanto na ME são empregados entre quatro e cinco espectrômetros para discriminar o espectro da radiação gerada pela interação entre o feixe de elétrons e a amostra, segundo energias características para cada elemento químico presente.

E

as análises por EDS em MEV são obtidas pela quantificação dos comprimentos de onda dos raios-X gerados quando da interação entre os elétrons primários do feixe e átomos que compõem a região imediatamente adjacente à superfície da amostra, enquanto na ME as análises por WDS são obtidas através da quantificação da densidade de emissão de raios-X pela amostra, quando essa é impactada pelos elétrons primários do feixe.

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3251461 Ano: 2015
Disciplina: Geologia
Banca: UFPA
Orgão: UFPA

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Geólogo
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Alguns silicatos, tais como o zircão e quartzo, podem produzir efeito de catodoluminescência em microscópios eletrônicos e microssondas eletrônicas devido à presença de

A

defeitos na estrutura cristalina do mineral, resultantes de sua cristalização magmática ou recristalização em regimes metamórficos.

B

elementos-traço na estrutura do mineral, tais como íons de elementos do grupo dos terras raras, Ti4+ e Cr3+, que atuam como ativadores da emissão de fótons, induzindo a catodoluminescência do mineral.

C

elementos-traço na composição do mineral, que atuam como ativadores de emissão de elétrons retroespalhados, gerando vacâncias e modificações na estrutura cristalina, induzindo a emissão de catodoluminescência pelo mineral.

D

elementos-traço na sua composição, que atuam como ativadores de emissão de elétrons secundários e causam modificações na estrutura cristalina, induzindo a emissão de catodoluminescência pelo mineral.

E

defeitos na estrutura cristalina do mineral, induzidos pela substituição, ao longo de eventos hidrotermais ou metamórficos, de componentes químicos primários por elementos-traço com diferentes raios iônicos, tipicamente em posições cristalográficas tetraédricas.

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3251460 Ano: 2015
Disciplina: Geologia
Banca: UFPA
Orgão: UFPA

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Geólogo
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A catodoluminescência é um dos efeitos resultantes da interação entre o feixe de elétrons primário, originado no canhão do microscópio eletrônico de varredura (MEV) ou microssonda eletrônica, e a amostra que está sendo observada. Com base nesses parâmetros, a catodoluminescência observada em MEV ou microssonda é definida como um(uma)

A

tipo de luminescência gerada pela emissão de elétrons de alta energia a partir da superfície da amostra.

B

tipo de radiação eletromagnética com comprimento de onda situado no espectro da luz visível, originada pela emissão de fótons gerados a partir da interação entre elétrons do feixe e elétrons de átomos da amostra.

C

luminescência originada a partir da emissão contínua, na forma de onda eletromagnética de baixa frequência, de elétrons secundários removidos da superfície da amostra por ação dos elétrons do feixe.

D

fluorescência gerada pela emissão de elétrons de baixa energia a partir de átomos situados na superfície da amostra.

E

radiação eletromagnética de baixa energia, constituída por elétrons e fótons originados pela ionização de átomos que compõem a região superficial da amostra.

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3251459 Ano: 2015
Disciplina: Geologia
Banca: UFPA
Orgão: UFPA

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Geólogo
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O sistema de vácuo de microscópios eletrônicos de varredura modernos, tal como os existentes no LABMEV do Instituto de Geociências da UFPA, é composto por duas bombas que trabalham em série: uma bomba mecânica rotativa de quatro estágios, para pressões ainda relativamente altas (até 10-3 Torr), e uma bomba turbomolecular, para intervalos de pressão baixa a muito baixa (até 10-6 Torr). Quanto as vantagens da bomba turbomolecular em relação a outros tipos de bombas para baixas pressões, ou alto vácuo, é correto afirmar

A

por trabalhar em baixas rotações, é baixo o risco de causar vibrações no sistema e assim prejudicar a qualidade das imagens.

B

seu consumo de energia, devido à eficiência em estabelecer o vácuo, é menor do que o dos outros tipos de bombas para alto vácuo.

C

por trabalhar acoplada a uma bomba rotativa, o nível de vácuo obtido por esse tipo de bomba é mais alto do que o obtido pelos demais tipos.

D

por ser uma bomba com poucos elementos móveis, sua durabilidade é maior do que a dos outros tipos de bombas para alto vácuo.

E

por ser uma bomba 'seca', não existe o risco de contaminação do sistema e das amostras por refluxo de vapores de óleo.

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3251458 Ano: 2015
Disciplina: Geologia
Banca: UFPA
Orgão: UFPA

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Geólogo
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Observando-se a imagem a seguir (Figura 2), obtida por elétrons secundários (SE) em amostra metalizada com Au, aceleração de voltagem de 12,5kV e distância de trabalho de 15 mm, nota-se que ela mostra excesso de brilho, baixo contraste, faixas irregulares e falta de definição dos detalhes da superfície da amostra.

Enunciado 3579021-1

Esse artefato da imagem pode ser atribuído a uma das seguintes causas:

A

Amostra suja e de superfície muito irregular, o que causa interferências na geração e detecção de elétrons secundários e seu processamento na composição digital da imagem.

B

A corrente elétrica induzida pelo feixe de elétrons não é descarregada adequadamente para o aterramento do microscópio eletrônico, acumulando-se na forma de carga estática em áreas da superfície da amostra, gerando sinais espúrios que distorcem a qualidade da imagem.

C

Metalização defeituosa, aplicada de modo não uniforme na superfície da amostra, o que propicia a geração de um excesso de elétrons secundários e retroespalhados nas regiões onde a metalização é mais delgada ou eventualmente inexistente.

D

Seleção incorreta da distância de trabalho utilizada para a obtenção da imagem, a qual deveria ser menor para que, concomitantemente, seja reduzida também a geração de elétrons secundários nas regiões mais irregulares da amostra.

E

Seleção incorreta da aceleração de voltagem utilizada para obtenção da imagem, que deveria ser mais elevada, da ordem de 15 kV ou maior, de modo a aumentar também a energia dos elétrons secundários gerados, que não ficariam então retidos nessas regiões da amostra.